EOS为ElectricalOverStress的缩写,指所有的过度电性应力。当外界电流或电压超过器件的最大规范条件时,器件性能会减弱甚至损坏。由电源和测试设备产生事件,损坏的现象包括金属线熔化、发热、高功率、闩锁效应 ,可以算作为ESD中的一种特殊反应。静电防护中无论是ESD或是EOS,都需要采取静电消除器来达到消除静电的最佳效果。
ESD(Electro-Static Discharge)是指静电放电,而EOS(Electro-Over stress)是指电过压(压不完全是电压)。
所有与过电压、过电流、过时间相关的电可靠性问题都是EOS范畴,而其中比较典型的是ESD、Latch-Up、EM。
EOS是Electrical Over-Stress的缩写,意为过电压破坏,是指过电压产生的热效应对电子元件的破坏。一般来说,在静电不良分析的角度上来说最常见到的就是「ESD」与「EOS」这两个名词,ESD指的是当ESDS Item在遭受到本身或其它外部产生之静电压场瞬间由局部放电所造成的破坏情形,而EOS则是指其它测试机台、生产机台、仪器、治具等所产生之设计不当电压(流)、或是漏电流对组件所造成之破坏情形称之;两者在成因上有很大的不同,所以在分析时亦可依据一些特性可看出一些端倪。首先是绝大多数的情况下EOS的电流均远大于ESD所产生的电流,且破坏时间上ESD多为数nS而EOS则可到数μS之久,所以在成相分析上EOS的破坏点多可见到焦黑的情形,而ESD则多仅可见漏电流产生路径之痕迹或空洞罢了!
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