新生儿脑ct能查出什么

新生儿脑发育不良是一个复杂的问题，需要综合考虑多种因素。除了参考正常儿童发育标准外，养育史、家庭环境以及社会环境等都是重要的诊断依据。那么，具体的新生儿脑发育不良诊断方法有哪些呢？
?CT和MRI扫描
CT和MRI扫描能清晰呈现脑组织的内部结构和病变处的密度变化，有助于诊断脑发育不全。
?X射线头颅平片
X射线头颅平片可以提供颅压增高及定位的证据，有助于脑发育不良的诊断。
?超声波诊断
通过B超可以判断占位病变位置的大小，这也是一种先进的诊断方法。
?放射性同位素脑扫描
此方法能观察到同位素浓集现象，有助于脑发育不良的诊断。
?淋巴结检查和神经系统检查
检查有无浅表淋巴结肿大，并结合病史，进行具体神经系统诊断。
?神经组织修复疗法
神经组织修复疗法是目前治疗脑发育不全最有效的方法。它通过患者自身修复对神经系统具有重要再生促进作用的神经细胞，注入患者体内。这些健康的神经细胞会促进受损神经细胞的修复，逐渐恢复患者神经系统的正常功能。

①产伤所致的硬膜下血肿常位于顶部硬膜下或小脑天幕附近，血肿较薄，呈高密度；②常并发蛛网膜下腔出血，表现为脑沟、脑裂和脑池密度增高；③侧脑室内出血表现为脑室高密度铸型或脑室内出现高密度的液－液平面；④脑内血肿常表现为侧脑室周围或基底节区高密度；⑤硬膜外血肿由产伤引起，较少见。